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Diversité scientifique et technologique
L'école d'ingénieurs de physique, électronique, matériaux
Diversité scientifique et technologique

> Formation

Conception en vue du test de circuits numériques-analogiques (SEI Soc MT-S9) - 5PMECVT8

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  • Volumes horaires

    • CM : 14.0
    • TD : 0
    • TP : 20.0
    • Projet : 0
    • Stage : 0
    Crédits ECTS : 3.5

Objectifs

Le cours vise à introduire les concepts généraux du test et du design pour la testabilité de circuits intégrés numériques analogique et RF

Contact Mounir BENABDENBI

Contenu

SEI
•Modeles de fautes (collage et délai)
•ATPG (algorithmes de génération de vecteurs de test) et simulation de fautes
•Design For Testability (scan path, BIST, Boundary Scan-JTAG)
•Techniques de test des circuits mixtes et analogiques

  • Test de mémoires – algorithmes de test de production et test de debug
  • Test des systèmes RF et mixtes


Prérequis

Circuits numériques de base (portes logiques et bascules/registres)

Contrôles des connaissances

50% Exam + 50% Compte Rendu TP



Informations complémentaires

Le cours vaut 2.0 ECTS pour les étudiants du cursus UE Conception Avancée (3A-AP)

Cursus ingénieur->APPRENTISSAGE MT->Semestre 9
Cursus ingénieur->SEI->Semestre 9

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mise à jour le 5 octobre 2017

Grenoble INP Institut d'ingénierie Univ. Grenoble Alpes