Volumes horaires
- CM 30.0
Crédits ECTS
Crédits ECTS 3.5
Objectif(s)
Ce cours vise à introduire les concepts de testabilité, robustesse et faible consommation ainsi que d'autres techniques avancées de conception VLSI
Contact Lorena ANGHELContenu(s)
- Techniques faible consommation ;
- Techniques d'amélioration de la fabrication et de la fiabilite, DFM(Y) : problèmes et solutions
- Techniques de tolérance aux fautes on chip (codes, reconfiguration, etc)
- Techniques de DFT intégrés : Scan Path, BIST, Boundary Scan, wrappeurs SOC
- Techniques de Test et auto-réparation des mémoires
Prérequis
Contrôle des connaissances
1 devoir surveillé 2h