Volumes horaires
- CM 12.0
Crédits ECTS
Crédits ECTS 1.5
Objectif(s)
VOIR FICHE 2A-FAME 4PMFCCM2
Contact David RIASSETTO
Contenu(s)
Prérequis
Contrôle des connaissances
L'examen existe uniquement en anglais 
Informations complémentaires
Le cours est donné uniquement en anglais
Cursus ingénieur->Cursus Internationaux->Semestre 4
Cursus ingénieur->Master RI FAME->Semestre 4
Bibliographie
- Bubert H & Jenett H., Surface & Thin Film Analysis : Principles, Instrumentation, Applications
- Adamson A.W. & Gast A.P. Physical chemistry of Surfaces
- De Gennes P.G, Brochard-Wyart F. Quéré D., Capillarity and Wetting Phenomena : Drops, Bubbles, Pearls, Waves
