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Diversité scientifique et technologique
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> Formation

Cristallographie - 4PMNCR19

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  • Volumes horaires

    • CM : 10.0
    • TD : 10.0
    Crédits ECTS : 1.5

Objectifs

Donner aux élèves des compléments de cristallographie sur la symétrie dans les cristaux et la diffraction des rayons X par rapport aux notions vues en 1ère année PMP.

Contact Stephane PIGNARD

Contenu

Introduction

Chap 1 : Cristallographie géométrique
1.1. Définition d'un cristal
1.2. La symétrie dans les cristaux

Chap 2 : Diffraction des RX: réseau réciproque
2.1. Diffusion par un arrangement périodique d'atomes
2.2. Réseau réciproque
2.3. Directions de diffraction

Chap 3 : Diffraction des RX: intensité diffractée
3.1. Diffusion d'une onde électromagnétique
3.2. Intensité diffractée

Chap 4 : Techniques expérimentales
4.1. Sources de rayons X
4.2. Techniques de diffraction X



Prérequis

Géométrie dans l'espace
Ondes électromagnétiques

Contrôles des connaissances

Devoir surveillé de 2h



Informations complémentaires

Cursus ingénieur->PNS->Semestre 3

Bibliographie

Cristallographie géométrique et radiocristallographie, J.J. Rousseau & A. Gibaud, Dunod (2006)
X-Ray Diffraction in Crystals, Imperfect Crystals, and Amorphous Bodies, A. Guinier, Freeman, San Francisco (1963)

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Université Grenoble Alpes