Volumes horaires
- CM 14.0
- TD 14.0
- TP 16.0
Crédits ECTS
Crédits ECTS 5.0
Objectif(s)
L'objectif de ce cours est de donner une vue d'ensemble des méthodes de caractérisation analytique et microstructurale des matériaux. On s'attachera à montrer la spécificité de chaque méthode, en termes de type d'information fournie, d'échelle d'analyse, de résolution et de sensibilité. On illustrera par des exemples appliqués aux différentes classes de matériaux.
VOIR FICHE 2A-SIM 4PMMCAR9
Contact Jean-Michel MISSIAEN
Contenu(s)
Introduction (4h C) : présentation générale ; phénomènes d'interaction rayonnement-matière
Caractérisation globale (8h C) : Composition (Fluorescence X ; émission/absorption atomique), liaisons chimiques (spectrométrie IR/Raman, RMN) ; structure (diffraction X et neutrons).
Caractérisation de la microstructure (6h C + 2h TD) : Imagerie par Microscopie Electronique à Balayage et en Transmission ; analyse d'images ; structure, texture et défauts (EBSD, diffraction électronique) ; composition locale (µAnalyse X ; pertes d'énergie des électrons).
Caractérisation des surfaces et des couches minces (6h C) : Imagerie par microscopie en champ proche ; composition (spectrométrie Auger et de photoélectrons, analyse par faisceaux d'ions) ; structure (diffraction X en incidence rasante, diffraction d'électrons lents).
TP (5x3h parmi 8x3h proposés) : Analyse chimique globale par ICP ; diffraction X ; microscopie électronique à balayage et microanalyse X ; microscopie électronique en transmission ; analyse d'images ; spectrométrie Auger/XPS ; microscopie à force atomique ; DSC (polymères).
Prérequis
Bases en atomistique, liaisons chimiques, propriétés électroniques de la matière et de cristallographie.
L'examen existe uniquement en anglais
Examen de 2h (2/3 de la note)
Rapport sur les TP (1/3 de la note)
Le cours est donné uniquement en anglais