Volumes horaires
- CM 8.0
- TD 6.0
Crédits ECTS
Crédits ECTS 1.5
Objectif(s)
VOIR FICHE 2A-SIM 4PMMSFI9
Contact Fabien VOLPI
Contenu(s)
Prérequis
Contrôle des connaissances
L'examen existe uniquement en anglais 
Informations complémentaires
Le cours est donné uniquement en anglais
Cursus ingénieur->Cursus Internationaux->Semestre 4
Cursus ingénieur->Master RI FAME->Semestre 4
Bibliographie
Tu KN, Mayer JW, Feldman LC, Ohring M, Electronic thin film science, McMillan
Freund LB, Suresh S, Thin film materials, stress defect formation & surface evolution
