Volumes horaires
- TP 20.0
Crédits ECTS
Crédits ECTS 2.5
Objectif(s)
Ce cours vise à introduire les concepts de testabilité, robustesse et faible consommation ainsi que d'autres techniques avancées de conception VLSI
Contact Mounir BENABDENBI
Contenu(s)
•Techniques faible consommation
•Techniques d'amélioration de la fabrication et de la fiabilite, DFM(Y) : problèmes et solutions
•Techniques de tolérance aux fautes on chip (codes, reconfiguration, etc)
•Techniques de DFT intégrés : Scan Path, BIST, Boundary Scan, wrappeurs SOC
• Techniques de test et auto-réparation des mémoires
Informations complémentaires
2,5 pour Cours/TD et 1,5 pour TP CAO et Intégration
Prérequis
Contrôle des connaissances
Compte rendu TP
Mounir BENABDENBI
Grégory DI PENDINA