CIME Nanotech - plateforme de caractérisation électrique
La plateforme de caractérisation électrique, d'une surface de 100m², est dédiée à la formation et à la recherche pour la caractérisation électrique de composants intégrés.
Domaines scientifiques et techniques
- Caractérisation électrique de composants intégrés sur silicium.
Présentation
Ces techniques nécessitent non seulement des notions de base sur la mesure en courant continu, transitoire ou alternatif, mais également de solides connaissances en physique des semiconducteurs et des composants. En effet, la plupart des mesures donnent ensuite lieu à des extractions plus ou moins poussées basées sur des modèles physiques.La plateforme « caractérisation électrique » met à disposition des instruments de mesure I-V et C-V aux formations intervenant sur le CIME Nanotech. Elles permettent aux élèves de s’initier à la caractérisation électrique, soit sur des échantillons réalisés dans la salle blanche du CIME Nanotech, soit sur des échantillons extérieurs. Enfin, elles peuvent également servir à des chercheurs ne disposant pas de ces instruments de mesure dans leurs laboratoires, et soucieux d’effectuer quelques mesures électriques..Partenaires interuniversitaires :
Élèves concernés : filières de 2e et 3e années Microélectronique et Télécoms | MT, Ingénierie physique pour la photonique et la microélectronique | IPHY, Systèmes électroniques intégrés | SEI et Biomedical engineering | BIOMED
Contacts
- Responsable pédagogique : Maryline BAWEDIN
- Responsable technique : Loïc VINCENT
- cime.grenoble-inp.fr