Phelma Formation 2022

Remote sensing (SICOM-DD SIGMA S9) - 5PMSSIR0

  • Volumes horaires

    • CM 6.0
    • Projet 0
    • TD 6.0
    • Stage 0
    • TP 10.0
    • DS 0

    Crédits ECTS

    Crédits ECTS 2.0

Objectif(s)

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Contact Mauro DALLA MURA

Contenu(s)

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Prérequis

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Contrôle des connaissances

Session normale / First session
Evaluation rattrapable (ER) / ER assessment : Projet individuel /
Evaluation non rattrapable (EN) / EN assessment : comptes rendus de BE / Lab reports
Rapport de BE : 40 %, Projet individuel : 60 %

Si situation 100% distancielle / If distant learning mandatory:
Evaluation rattrapable (ER) / ER assessment : Projet personnel / Personal project
Evaluation non rattrapable (EN) / EN assessment : Project collectif / Group project

Session de rattrapage / Second session
EN : Evaluation non rattrapable / EN assessment: Retaking this assessment is not possible



Note finale = 0,6 x note d'examen écrit + 0,4 x moyenne des notes de rapports de TP + 2 pts projet optionnel
Final grade = 0.6 x grade of the written exam + 0.4 x average of the grades given to the reports of the lab sessions + 2 pts optional project

Si situation 100% distancielle / If distant learning mandatory:
Note finale = 0,6 x projet personnel + 0,4 x Project collectif + 2 pts projet optionnel
Final grade = 0.6 x Personal project + 0.4 x Group project + 2 pts optional project

Informations complémentaires

Cursus ingénieur->Filières->Semestre 9
Cursus ingénieur->Double-Diplômes Ingénieur/Master->Semestre 9

Bibliographie

Main references
R.A. Schowengerdt, Remote Sensing: Models and Methods for Image Processing, Seconda Edizione, London: Academic Press, 1997.
J.A. Richards, Remote Sensing Digital Image Analysis: An Introduction, Terza Edizione, New York: Springer-Verlag, 1999.

Other references
D. A. Landgrebe, Signal Theory Methods in Multispectral Remote Sensing, New Jersey: John Wiley & Sons, 2003
C. Oliver, S. Quegan, Understanding Synthetic Aperture Radar Images, London: Artech House, 1998.
T. M. Lillesand, R. W. Kiefer, Remote Sensing and Image Interpretation, New York: John Wiley, 1994.