Volumes horaires
- CM 14.0
- TP 20.0
Crédits ECTS
Crédits ECTS 2.0
Objectif(s)
Le cours vise à introduire les concepts généraux du test et du design pour la testabilité de circuits intégrés numériques anaogique et RF
Contact Salvador MIR, Mounir BENABDENBIContenu(s)
Types de test et modèles de fautes, erreurs et défaillances
Test numérique - Génération automatique de vecteurs de test, DFT, BIST, JTAG
Test de mémoires – algorithmes de test de production et test de debug
Test des systèmes RF et mixtes
Prérequis
Circuits numériques de base (portes logiques et bascules/registres)
Contrôle des connaissances
50% Exam + 50% Compte Rendu TP