Conception en vue du test de circuits numériques-analogiques - 5PMRCVT6
A+Augmenter la taille du texteA-Réduire la taille du texteImprimer le documentEnvoyer cette page par mail
Objectifs
Le cours vise à introduire les concepts généraux du test et du design pour la testabilité de circuits intégrés numériques anaogique et RF
Contact Salvador MIR,
Mounir BENABDENBI
Contenu Types de test et modèles de fautes, erreurs et défaillances
Test numérique - Génération automatique de vecteurs de test, DFT, BIST, JTAG
Test de mémoires – algorithmes de test de production et test de debug
Test des systèmes RF et mixtes
PrérequisCircuits numériques de base (portes logiques et bascules/registres)
Contrôles des connaissances 50% Exam + 50% Compte Rendu TP
Informations complémentaires Cursus ingénieur->ALTERNANCE (CSI)->Semestre 5
A+Augmenter la taille du texteA-Réduire la taille du texteImprimer le documentEnvoyer cette page par mail
mise à jour le 27 novembre 2015