Volumes horaires
- CM 12.0
- TD 18.0
Crédits ECTS
Crédits ECTS 2.0
Objectif(s)
Contact Francoise HIPPERT
Contenu(s)
Prérequis
Contrôle des connaissances
L'examen existe uniquement en anglais 
Informations complémentaires
Le cours est donné uniquement en anglais
Cursus ingénieur->Cursus Internationaux->Semestre 3
Cursus ingénieur->Master RI FAME->Semestre 3
Bibliographie
- Hammond C : The Basics of Crystallography and Diffraction, International Union of Crystallography /Oxford Science Publications, (2001).
- Warren B.E.: X-Ray Diffraction, (Dover publications, 1990 second edition)
- Als-Nielsen J &McMorrow D.: Elements of Modern X-ray Physics Wiley (2001)
