Modélisation électrique des composants actifs intégrés - 3PMRMEC4
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Volumes horaires
- CM : 14.0
- TD : 18.0
- TP : 0
- Projet : 0
- Stage : 0
Crédits ECTS : 1.0
Objectifs
Connaître les phénomènes physiques qui se manifestent dans les matériaux semi-conducteurs et qui sont utilisés pour réaliser les capteurs ou les composants de la microélectronique.
Comprendre les modèles de base des principaux composants de la microélectronique moderne(transistor MOSFET, capacité MOS, jonction PN...). Connaitre les effets spécifiques dus à la miniaturisation
Contact Panagiota MORFOULI
Contenu • Propriétés élémentaires des semi-conducteurs à l'équilibre (structures, bandes d'énergie, électron et trou, dopage)
• Equation de Poisson et conséquences (zone de charge d'espace, barrière ou puits de potentiel)
• Contact métal-semiconducteur, diode Schottky
• Structures MIS (idéale ou réelle), Capacités MOS ; CCD
• Transistors à effet de champ : MOSFET, fonctionnement, modèles et extraction de paramètre.
• Quelques notions sur les transistors JFET, MESFET
• Jonction p-n ; modèles idéal et réel ;
PrérequisCours de physique des semiconducteurs
Contrôles des connaissances Examen Ecrit/ 80%
Contrôle Continu/ 20%
(feuille A4 RV manuscrite + calculatrices)
xamen Ecrit/ 80%
Contrôle Continu/ 20%
Informations complémentaires Cursus ingénieur->Apprentissage MT->Semestre 5
Bibliographie • Vapaille et R. Castagné : Dispositifs et circuits intégrés (Dunod, 1987)
• H. Mathieu : Physique des semiconducteurs et des composants électroniques (Dunod, 2004)
• S.M. Sze : Semiconductor devices: Physics and Technology (2nd Ed., J. Wiley, 2002).
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mise à jour le 27 juin 2014