Volumes horaires
- CM 10.0
- Projet 0
- TD 4.0
- Stage 0
- TP 8.0
Crédits ECTS
Crédits ECTS 2.0
Objectif(s)
Atteindre une compréhension générale des techniques de microscopie par sonde locale ainsi que leurs principes opératoires physiques.
Comprendre certains phénomènes physiques qui comptent parmi les principales applications des microscopies par sonde locale.
Contenu(s)
Partie I : Microscopie à effet tunnel et applications. Instrumentation des microscopies par sonde locale.
Chapitre I : Physique de l'effet tunnel
Chapitre II : Instrumentation du STM
Chapitre III : Morceaux choisis d'applications du STM
Partie II : Microscopie par force atomique et techniques associées
Chapitre I : Principes de l'AFM
Chapitre II : Modes d'imagerie
Chapitre III : Mode spectroscopique
Chapitre IV : Introduction aux microscopies à force électrostatique (EFM, KPFM,...)
Chapitre V : L'AFM comme un outil de manipulation local
Prérequis
Physique quantique, physique du solide
Contrôle des connaissances
Semestre 8 - L'examen existe uniquement en anglais 
Examen écrit 2h, pas de documents autorisés sauf une feuille manuscrite RV, pas d'appareils électroniques
Contrôle continue : CC
Examen écrit Session1 : DS1
Examen écrit Session 2 : DS2
N1 = Note finale session 1
N2 = Note finale session 2
En présentiel :
N1 = % max(TdE, CC) + % DS1
N2 = % max(TdE, CC) + % DS2
En distanciel :
N1 =
N2 =
Commentaire :
Informations complémentaires
Semestre 8 - Le cours est donné uniquement en anglais
Cursus ingénieur->Filière NANOTECH->Semestre 8