Physique et applications de la microscopie avancée - 4PMTAMA2
A+Augmenter la taille du texteA-Réduire la taille du texteImprimer le documentEnvoyer cette page par mail
Volumes horaires
- CM : 10.0
- TD : 4.0
- TP : 8.0
- Projet : 0
- Stage : 0
Crédits ECTS : 3.0
Objectifs
Atteindre une compréhension générale des techniques de microscopie par sonde locale ainsi que leurs principes opératoires physiques.
Comprendre certains phénomènes physiques qui comptent parmi les principales applications des microscopies par sonde locale.
Contact Clemens WINKELMANN,
Hermann SELLIER
Contenu Partie I : Microscopie à effet tunnel et applications. Instrumentation des microscopies par sonde locale.
Chapitre I : Physique de l'effet tunnel
Chapitre II : Instrumentation du STM
Chapitre III : Morceaux choisis d'applications du STM
Partie II : Microscopie par force atomique et techniques associées
Chapitre I : Principes de l'AFM
Chapitre II : Modes d'imagerie
Chapitre III : Mode spectroscopique
Chapitre IV : Introduction aux microscopies à force électrostatique (EFM, KPFM,...)
Chapitre V : L'AFM comme un outil de manipulation local
PrérequisPhysique quantique, physique du solide
Contrôles des connaissances Semestre 8 - L'examen existe uniquement en anglais 
Examen écrit, pas de documents
Contrôle continue : CC
Examen écrit Session1 : DS1
Examen écrit Session 2 : DS2
N1 = Note finale session 1
N2 = Note finale session 2
En présentiel :
N1 = % max(TdE, CC) + % DS1
N2 = % max(TdE, CC) + % DS2
En distanciel :
N1 =
N2 =
Commentaire :
Informations complémentaires Semestre 8 - Le cours est donné uniquement en anglais 
Cursus ingénieur->Filières->Semestre 8
A+Augmenter la taille du texteA-Réduire la taille du texteImprimer le documentEnvoyer cette page par mail
mise à jour le 23 janvier 2019