Volumes horaires
- CM 10.0
- Projet 0
- TD 13.0
- Stage 0
- TP 0
Crédits ECTS
Crédits ECTS 1.5
Objectif(s)
Comprendre les phénomènes physiques qui se manifestent dans les matériaux semiconducteurs et qui sont utilisés pour réaliser les composants de la microélectronique
Contact Nathalie MATHIEUContenu(s)
• Structure de bandes dans les semiconducteurs (structures cristallographiques, bandes d'énergie, concept de masse effective, électrons et trous)
• Propriétés des semiconducteurs à l'équilibre (SC intrinsèques et extrinsèques, densités de porteurs, évolution avec la température)
• Applications aux composants à semiconducteurs (transport de charges, conductivité et mobilité, diffusion, exemple de la jonction PN)
Prérequis
- Équations différentielles
- Bases de physique : cours de physique tronc commun PET-PMP S5
Contrôle des connaissances
En présentiel
SESSION NORMALE :
Types d'évaluation (examen écrit, oral, CC, TP, Rapport, ...) : CC + examen écrit
*Évaluation rattrapable :*
Type d'évaluation : examen écrit
Durée : 2h00
Documents autorisés : aucun
Documents interdits : tous documents interdits
Calculatrice : autorisée, modèle validé par Phelma
Possible en distanciel : non
Commentaire : formulaire fourni avec le sujet
*Évaluation non rattrapable :*
Type d'évaluation : CC
Durée : variable
Possible en distanciel : oui
Commentaire : exercices sur Chamilo
SESSION DE RATTRAPAGE :
Types d'évaluation (examen écrit, oral, CC, TP, Rapport, ...) : examen écrit
Type d'évaluation : examen écrit
Durée : 1h30
Documents autorisés : aucun
Documents interdits : tous documents interdits
Calculatrice : autorisée, modèle validé par Phelma
Possible en distanciel : non
Commentaire : formulaire fourni avec le sujet
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En distanciel
SESSION NORMALE :
Types d'évaluation (examen écrit, oral, CC, TP, Rapport, ...) : CC + examen écrit
*Évaluation rattrapable :*
Type d'évaluation : examen écrit
Durée : 1h
Documents autorisés : tous documents autorisés
Calculatrice : autorisée
Commentaire : surveillance ZOOM + caméra obligatoire
*Évaluation non rattrapable :*
Type d'évaluation : CC
Durée : variable
Commentaire : exercices sur Chamilo
SESSION DE RATTRAPAGE :
Types d'évaluation (examen écrit, oral, CC, TP, Rapport, ...) : examen écrit + oral
Type d'évaluation : Examen écrit
Durée : 1h
Documents autorisés : tous documents autorisés
Calculatrice : autorisée
Commentaire : surveillance ZOOM + caméra obligatoire
Type d'évaluation : Interrogation orale sur la partie écrite
Durée : 10 min
Commentaire : ZOOM + caméra obligatoire
Contrôle continu : CC
Examen écrit Session1 : DS1
Examen écrit Session 2 : DS2
1 et 2 après type = session
N1 = Note finale session 1
N2 = Note finale session 2
En présentiel :
N1 = 10% CC + 90% DS1
N2 = 100% DS2
En distanciel :
N1 = 20% CC + 80% DS1
N2 = 100% Oral
Informations complémentaires
Cursus ingénieur->1ère année ingénieur Phelma->Semestre 6
Cursus ingénieur->Cours communs->Semestre 6
Bibliographie
Henry Mathieu, Hervé Fanet, Physique des semiconducteurs et des composants électroniques, Editions Dunod, 2009
Christian Ngô, Hélène Ngô, Physique des semiconducteurs, Editions Dunod, 2012
Ben G. Streetman, Sanjay K. Banerjee, Solid state devices, Pearson Prentice Hall, 2014
Simon M. Sze, Kwok K. Ng , Physics of semiconductore devices, Wiley 2006