Volumes horaires
- CM 0
- Projet 0
- TD 0
- Stage 0
- TP 16.0
- DS 0
Crédits ECTS
Crédits ECTS 1.0
Objectif(s)
*Comprendre les problématiques de test fonctionnel de circuit analogique
**Test sous pointe
**Test connectorisé
*Développer des compétences dans les techniques de mesure de circuits intégrés RF
**Mesure de Bruit
**Mesure de Linéarités
**Analyse de système de transmission numérique
*Développer des compétence dans le test de circuits numériques
**Test fonctionnel
**Test parametrique
**Vecteur de Test
Contenu(s)
TP - LNA
TP - PA
TP - Systeme
TP - PLL
TP- Test Numérique
Prérequis
Conception de Circuit RF
Test Numérique
Contrôle des connaissances
Compte rendu de TP
N1=Moyenne TP Analogique
N2=Moyenne TP Numérique
Ntot=Note finale=Moyenne(N1;N2)
Bibliographie
- Thomas H. Lee "The design of CMOS Radio-frequency Integrated Circuits" Cambridge University Press 1998
- B. Razavi "RF Microelectronics" Prentice Hall 1998