Volumes horaires
- CM 9.0
- Projet 0
- TD 9.0
- Stage 0
- TP 0
Crédits ECTS
Crédits ECTS 1.5
Objectif(s)
Comprendre l'impact, la modélisation et la caractérisation des défauts dans les composants électroniques
Contact Quentin RAFHAYContenu(s)
Ce cours détail la physique des défauts à l'intérieur des composants électroniques, d'un point de vue fondamental (modélisation, équation), mais aussi au travers de l'exposition des méthodes de caractérisation des pièges, qui renseignent sur le comportement de ces défauts dans les composants
Prérequis
Physique du composants de base ( capa MOS, jonction pn, diagramme de bande, physique des semiconducteurs).
SESSION NORMALE :
Types d'évaluation : DS
Evaluation rattrapable : DS
- duree : 2h
- documents autorisés : oui
- calculatrices autorisées : oui
- possible en distanciel : oui
SESSION DE RATTRAPAGE : DS
Evaluation : DS
- duree : 2h
- documents autorisés : oui
- calculatrices autorisées : oui
- possible en distanciel : oui
Examen écrit Session 1 : DS1
Examen écrit Session 2 : DS2
N1 = Note finale session 1 = 100% DS1
N2 = Note finale session 2 = 100% DS2
SEMICONDUCTOR MATERIAL AND DEVICE CHARACTERIZATION
Dieter K Schroder