Volumes horaires
- CM 11.0
- Projet 0
- TD 11.0
- Stage 0
- TP 0
Crédits ECTS
Crédits ECTS 2.0
Objectif(s)
L'objectif de ce cours est de donner une vue d'ensemble des méthodes de caractérisation structurale, microstructurale et chimique des matériaux.
Les différents types d'interactions rayonnement-matière ainsi que les aspects instrumentaux sont développés. Les principales techniques d'analyse sont ensuite détaillées en s'appuyant sur des exemples concrets.
Contenu(s)
Chap I - Interactions rayonnement-matière
- Grandeurs fondamentales
- Interaction RX-matière
- Interaction électrons-matière
- Interaction ions-matière
Chap II - RX, électrons, ions : production et détection
- Techniques de production des particules
- Techniques de détection des particules
Chap III - Techniques de caractérisation à sonde photonique
- Techniques de diffraction : XRD, XRR
- Techniques spectrométriques : XRF, EXAFS, XPS, Raman
Chap IV - Techniques de caractérisation à sonde électronique
- Microscopies Electroniques et techniques associées : MEB, EBSD, EBIC, MET, EDS/WDS
- Autres techniques : CL, AES, LEED, RHEED
Chap V - Techniques de caractérisation à sonde ionique
- Retrodiffustion Elastique de Rutherford (RBS)
- Secondary Ion Mass Spectroscopy (SIMS)
Prérequis
Cristallographie, diffraction
Devoir écrit en présentiel (2 h) Session 2 pareil que session 1
Si ce n'est pas possible en présentiel memes modalites mais surveillance pas zoom
Devoir écrit en présentiel (1 h) + Controle continue
Session 2 pareil que session 1
- Analyse structurale et chimique des matériaux, J.P. Eberhart, Dunod (1997)
- Traité des matériaux Tome 3 : caractérisation expérimentale des matériaux II, J.L. Martin, A. George, Presses polytechniques et univ. romandes, Lausanne (1998)
- Traité des matériaux Tome 4 : analyse et technologies des surfaces, H.J. Mathieu, E. Bergmann, R. Gras, Presses polytechniques et univ. romandes, Lausanne (2003)