Design for test (UGA) - WPMWDFT7
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Volumes horaires
- CM : 4.0
- TD : 4.0
- TP : 0
- Projet : 0
- Stage : 0
- DS : 0
Crédits ECTS : 0.75
Objectifs
This teaching module provides a comprehensive description of test methods for RF ICs
Contact Laurent MONTES
Contenu Introduction to RF production testing (What is test? Characterization vs. verification vs. production testing; IC testing methodology, objectives, challenges; Modeling the cost of test); Current industrial practice for RF testing (Testing RF stand-alone ICs: basic measurements such as power, noise, gain, linearity, S-parameters for low noise amplifiers, mixers, power amplifiers, etc; Testing RF transceivers: receiver and transmitter tests); Advanced test techniques (Design for Test (DfT) solutions; Built-In Self-Test (BIST) solutions; Practical case studies: loopback test, RF power detectors, envelope detectors, current sensors, non-intrusive process monitors, temperature sensors, etc); State-of-the-art research papers reading and discussion.
PrérequisBasics in RF and RF ICs.
Contrôles des connaissances Semestre 9 - L'examen existe uniquement en anglais 
WE=Written Exam
WE=Written Exam
Final mark=100% WE
Informations complémentaires Le cours vaut 0.0 ECTS pour les étudiants du cursus UE 5 Speciality courses (3A SEI)
Semestre 9 - Le cours est donné uniquement en anglais

Cursus ingénieur->Filières->Semestre 9
Cursus ingénieur->Double-Diplômes Ingénieur/Master->Semestre 9
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mise à jour le 13 mars 2019