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Diversité scientifique et technologique
L'école d'ingénieurs de physique, électronique, matériaux
Diversité scientifique et technologique

> Formation

Physique de la matière (orienté e) - 3PMRPMA4

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  • Volumes horaires

    • CM : 15.0
    • TD : 19.0
    • TP : 0
    • Projet : 0
    • Stage : 0
    Crédits ECTS : 2.0

Objectifs

Comprendre les phénomènes physiques qui se manifestent dans les matériaux semiconducteurs et qui sont utilisés pour réaliser les composants de la microélectronique.

Contact Nathalie MATHIEU

Contenu

  • Propriétés élémentaires des semiconducteurs à l'équilibre (structures, bandes d'énergie, électron et trou, dopage)
  • Équation de Poisson et conséquences (zone de charge d'espace, barrière ou puits de potentiel)
  • Jonction PN à l'équilibre
  • Perturbations faibles de l'équilibre : transport de charges (conduction, mobilité des porteurs, diffusion)
  • Perturbations fortes de l'équilibre (génération et recombinaison de porteurs)
  • Contact métal-semiconducteur


Prérequis
  • Équations différentielles
  • Bases de physique

Contrôles des connaissances

En présentiel
SESSION NORMALE :
Types d'évaluation (examen écrit, oral, CC, TP, Rapport, ...) : examen écrit

*Évaluation rattrapable :*
Type d'évaluation : examen écrit
Durée : 2h
Documents autorisés : formulaire A4 RV autorisé
Documents interdits : autres documents interdits
Calculatrice : autorisée, modèle validé par Phelma
Possible en distanciel : non

SESSION DE RATTRAPAGE :
Types d'évaluation (examen écrit, oral, CC, TP, Rapport, ...) : examen écrit

Type d'évaluation : examen écrit
Durée : 1h30
Documents autorisés : formulaire A4 RV autorisé
Documents interdits : autres documents interdits
Calculatrice : autorisée, modèle validé par Phelma
Possible en distanciel : non

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En distanciel
SESSION NORMALE :
Types d'évaluation (examen écrit, oral, CC, TP, Rapport, ...) : CC + examen écrit
*Évaluation rattrapable :*
Type d'évaluation : examen écrit
Durée : 1h
Documents autorisés : tous documents autorisés
Calculatrice : autorisée
Commentaire : surveillance ZOOM + caméra obligatoire

*Évaluation non rattrapable :*
Type d'évaluation : CC
Durée : variable
Commentaire : exercices sur Chamilo

SESSION DE RATTRAPAGE :
Types d'évaluation (examen écrit, oral, CC, TP, Rapport, ...) : examen écrit + oral

Type d'évaluation : Examen écrit
Durée : 1h
Documents autorisés : tous documents autorisés
Calculatrice : autorisée
Commentaire : surveillance ZOOM + caméra obligatoire

Type d'évaluation : Interrogation orale sur la partie écrite
Durée : 10 min
Commentaire : ZOOM + caméra obligatoire



Contrôle continu : CC
Examen écrit Session1 : DS1
Examen écrit Session 2 : DS2
1 et 2 après type = session
N1 = Note finale session 1
N2 = Note finale session 2

En présentiel :
N1 = 100% DS1
N2 = 100% DS2

En distanciel :
N1 = 20% CC + 80% DS1
N2 = 100% Oral

Informations complémentaires

Cursus ingénieur->Apprentissage MT->Semestre 5

Bibliographie

H. MATHIEU, Physique des semiconducteurs et des composants électroniques (Dunod, 2004)
G. STREETMAN and S. BANERJEE, Solid-State Electronic Devices (Prentice Hall, 2005)

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mise à jour le 6 juillet 2016

Université Grenoble Alpes