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Comprendre les phénomènes physiques qui se manifestent dans les matériaux semiconducteurs et qui sont utilisés pour réaliser les composants de la microélectronique.
Contact Nathalie MATHIEUEn présentiel
SESSION NORMALE :
Types d'évaluation (examen écrit, oral, CC, TP, Rapport, ...) : examen écrit
*Évaluation rattrapable :*
Type d'évaluation : examen écrit
Durée : 2h
Documents autorisés : formulaire A4 RV autorisé
Documents interdits : autres documents interdits
Calculatrice : autorisée, modèle validé par Phelma
Possible en distanciel : non
SESSION DE RATTRAPAGE :
Types d'évaluation (examen écrit, oral, CC, TP, Rapport, ...) : examen écrit
Type d'évaluation : examen écrit
Durée : 1h30
Documents autorisés : formulaire A4 RV autorisé
Documents interdits : autres documents interdits
Calculatrice : autorisée, modèle validé par Phelma
Possible en distanciel : non
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En distanciel
SESSION NORMALE :
Types d'évaluation (examen écrit, oral, CC, TP, Rapport, ...) : CC + examen écrit
*Évaluation rattrapable :*
Type d'évaluation : examen écrit
Durée : 1h
Documents autorisés : tous documents autorisés
Calculatrice : autorisée
Commentaire : surveillance ZOOM + caméra obligatoire
*Évaluation non rattrapable :*
Type d'évaluation : CC
Durée : variable
Commentaire : exercices sur Chamilo
SESSION DE RATTRAPAGE :
Types d'évaluation (examen écrit, oral, CC, TP, Rapport, ...) : examen écrit + oral
Type d'évaluation : Examen écrit
Durée : 1h
Documents autorisés : tous documents autorisés
Calculatrice : autorisée
Commentaire : surveillance ZOOM + caméra obligatoire
Type d'évaluation : Interrogation orale sur la partie écrite
Durée : 10 min
Commentaire : ZOOM + caméra obligatoire
Contrôle continu : CC
Examen écrit Session1 : DS1
Examen écrit Session 2 : DS2
1 et 2 après type = session
N1 = Note finale session 1
N2 = Note finale session 2
En présentiel :
N1 = 100% DS1
N2 = 100% DS2
En distanciel :
N1 = 20% CC + 80% DS1
N2 = 100% Oral
H. MATHIEU, Physique des semiconducteurs et des composants électroniques (Dunod, 2004)
G. STREETMAN and S. BANERJEE, Solid-State Electronic Devices (Prentice Hall, 2005)
mise à jour le 6 juillet 2016