Volumes horaires
- CM 9.0
- Projet 0
- TD 9.0
- Stage 0
- TP 0
Crédits ECTS
Crédits ECTS 1.5
Objectif(s)
Ce cours a pour objectifs de comprendre la modélisation et la caractérisation des défauts dans les composants à semiconducteurs
Contact Quentin RAFHAYContenu(s)
- Rappels du fonctionnenement de base des composants à SC
- Rappels des défauts dans les semiconducteurs (état dans le gap, G-R SRH, nature des pièges)
- Caractérisation harmonique
- Caractérisation impulsionel
- Bruit basse fréquence
Prérequis
Physique des composants à semiconducteur (diode, Capa MOS, MOSFET)
Base des réponses temporels des signaux et des filtres
Contrôle des connaissances
Partiel écrit : 2h
100% examen
Informations complémentaires
Cursus ingénieur->Filières->Semestre 9
Cursus ingénieur->Double-Diplômes Ingénieur/Master->Semestre 9
Bibliographie
SEMICONDUCTOR MATERIAL AND DEVICE CHARACTERIZATION
Dieter K Schroder